AFM探针的一些常见问题及答案，大家来看看
发布日期：2021-12-03 10:55:29
AFM探针的一些常见问题及答案，大家来看看。
在AFM探针测试过程中，AFM探针厂家的工作人员从与很多同学的交流中了解到，很多同学对这个项目了解不多。所以AFM探针厂家对AFM探针测试问题进行收集整理，希望对感兴趣的伙伴们有所帮助。
1.原子力显微镜能控制温度吗？
答：目前AFM无法控制温度，需要定制设备的温控系统。
2.测量二维mxene纳米片样品浓度有什么要求？
答：没有固定值，比TEM浓度略厚。通过观察溶液的颜色来确定，确定合适的超声波和清洗时间来保证分散效果，否则纳米片样品不均匀。
3.单层石墨烯基二维材料的厚度如何制备？
答：以DMF为溶剂，超声半小时以上，静置10分钟，将液体滴加或旋涂在云母或硅衬底上，在适当温度下干燥，测试前用氮气吹扫。
4.腐蚀后的样品可以用作原子力显微镜吗？
答：可以，但要确保样品的表面波动低于微米级。
5.吹氮干燥和冷冻干燥哪种方法更好？
答：氮气吹扫一般在干燥后进行，以上两种干燥方式差别不大。
6.如何准备薄膜测试样品以保证平整度？
答：贴膜应尽量切小，以免装裱过程中起泡。
7.设定点的设置如何判断为百分比？
回答：根据选择的测试类型设置特定的设定点。接触模式和峰值力轻敲模式的设定点之间的关系与力成正比。攻丝模式的设定点和力之间的关系是抛物线。一般选择自由振幅的80%，自由振幅是已知的。
8.测量比表面积时测试时间过长是因为样品的原因吗？是不是没有在规定的时间内完成？
答：测试时间与测试频率有关。测试扫描频率越高，扫描速度越快，时间越短，反之亦然。
9.如果粉末分散液滴到云母片上，云母片是否小于200毫米？如果材料的尺寸在几微米左右，可以测量吗？
答：云母的直径一般为1厘米，我们的样品台尺寸为200毫米。其实AFM的测量范围是很小的范围，一个1cm左右大小的基片完全可以满足测试要求。
10.你通常在PFM用什么探头？
答：导电探针可以。建议使用单片机-Pit系列探头。
如果大家还想了解更多关于AFM探针的内容可以CQ9电子。我们是AFM探针的生产厂家，对于它有着充分的了解，可以帮助大家了解更多相关的内容。
在AFM探针测试过程中，AFM探针厂家的工作人员从与很多同学的交流中了解到，很多同学对这个项目了解不多。所以AFM探针厂家对AFM探针测试问题进行收集整理，希望对感兴趣的伙伴们有所帮助。
1.原子力显微镜能控制温度吗？
答：目前AFM无法控制温度，需要定制设备的温控系统。
2.测量二维mxene纳米片样品浓度有什么要求？
答：没有固定值，比TEM浓度略厚。通过观察溶液的颜色来确定，确定合适的超声波和清洗时间来保证分散效果，否则纳米片样品不均匀。
3.单层石墨烯基二维材料的厚度如何制备？
答：以DMF为溶剂，超声半小时以上，静置10分钟，将液体滴加或旋涂在云母或硅衬底上，在适当温度下干燥，测试前用氮气吹扫。
4.腐蚀后的样品可以用作原子力显微镜吗？
答：可以，但要确保样品的表面波动低于微米级。
5.吹氮干燥和冷冻干燥哪种方法更好？
答：氮气吹扫一般在干燥后进行，以上两种干燥方式差别不大。
6.如何准备薄膜测试样品以保证平整度？
答：贴膜应尽量切小，以免装裱过程中起泡。
7.设定点的设置如何判断为百分比？
回答：根据选择的测试类型设置特定的设定点。接触模式和峰值力轻敲模式的设定点之间的关系与力成正比。攻丝模式的设定点和力之间的关系是抛物线。一般选择自由振幅的80%，自由振幅是已知的。
8.测量比表面积时测试时间过长是因为样品的原因吗？是不是没有在规定的时间内完成？
答：测试时间与测试频率有关。测试扫描频率越高，扫描速度越快，时间越短，反之亦然。
9.如果粉末分散液滴到云母片上，云母片是否小于200毫米？如果材料的尺寸在几微米左右，可以测量吗？
答：云母的直径一般为1厘米，我们的样品台尺寸为200毫米。其实AFM的测量范围是很小的范围，一个1cm左右大小的基片完全可以满足测试要求。
10.你通常在PFM用什么探头？
答：导电探针可以。建议使用单片机-Pit系列探头。
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